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IEC 62951-7:2019
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 7: Test method for characterizing the barrier performance of thin film encapsulation for flexible organic semiconductor- 발행일 : 2019-02-27
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 47 : Semiconductor devices |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 62951-7:2019 specifies evaluation conditions and gives a method of measurement as well as a test set-up for the measurement of barrier performance for thin-film layer with ultra‑low permeation rate under both flat and bending conditions. This document also includes the preparation of specimen, electrical contacts, sensor films and calculation procedures. For these purposes, this document provides terms, definitions, symbols, configurations, and test methods including test conditions such as temperature, relative humidity, testing time. |
| 국제분류(ICS)코드 | 31.080.99 : 기타 반도체 장치 |
| 페이지수 | 28 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 62951-7:2019상세보기 | Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 7: Test method for characterizing the barrier performance of thin film encapsulation for flexible organic semiconductor | 2019-02-27 | 표준 |
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