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IEC 62951-5:2019
Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials- 발행일 : 2019-02-27
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 47 : Semiconductor devices |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 62951-5:2019 specifies the test method for thermal characteristics of flexible materials. This document includes terms, definitions, symbols, and test methods that can be used to evaluate and determine thermal characteristics of flexible materials for practical use. The measurement method relies on non-contact optical thermometry that is based on temperature dependent optical reflectance. This document is applicable to both substrate and thin-film flexible semiconductor materials that are subjected to bending and stretching. |
| 국제분류(ICS)코드 | 31.080.99 : 기타 반도체 장치 |
| 페이지수 | 33 |
| Edition | 1.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 62951-5:2019상세보기 | Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 5: Test method for thermal characteristics of flexible materials | 2019-02-27 | 표준 |
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