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    IEC 62951-3:2018

    Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging
    • 발행일 : 2018-11-07
    • 발행기관 : IEC
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상세정보

분야 TC 47 : Semiconductor devices
적용범위 IEC 62951-3:2018(E) specifies the method for evaluating thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging. The thin film transistor is fabricated on flexible substrates, including polyethylene terephthalate (PET), polyimide (PI), elastomer and others. The stress is applied by applying a uniformly-distributed pressure to the flexible substrate using the equipment.
국제분류(ICS)코드 31.080.99 : 기타 반도체 장치
페이지수 22
Edition 1.0

이력정보

No. 표준번호 표준명 발행일 상태
1 IEC 62951-3:2018상세보기 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging 2018-11-07 표준

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