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IEC 60747-2:2025
Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes- 발행일 : 2025-09-29
- 발행기관 : IEC
상세정보
| 분야 | TC 47/SC 47E : Discrete semiconductor devices |
|---|---|
| 적용범위 | IEC 60747-2:2025 specifies product specific standards for terminology, letter symbols, essential ratings and characteristics (properties), measuring and test methods, requirements for type tests, routine tests, endurance tests and marking for the following discrete semiconductor devices: - generic rectifier diodes; - avalanche rectifier diodes; - fast-switching rectifier diodes; - Schottky barrier diodes. If no ambiguity is likely to result, any of the above will be referred to as diodes. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: a) the terms and definitions for partial thermal resistance junction-to-case have been added; b) Clauses 3, 4, 5, 6 and 7 have been amended with some deletions of information no longer in use and with some necessary additions. |
| 국제분류(ICS)코드 | 31.080.10 : 다이오우드 |
| 페이지수 | 50 |
| Edition | 4.0 |
이력정보
| No. | 표준번호 | 표준명 | 발행일 | 상태 |
|---|---|---|---|---|
| 1 | IEC 60747-2:2025상세보기 | Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes | 2025-09-29 | 표준 |
| 2 | IEC 60747-2:2016상세보기 | Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes | 2016-04-13 | 구판 |
| 3 | IEC 60747-2:2000상세보기 | Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 2: Rectifier diodes | 2000-03-21 | 구판 |
| 4 | IEC 60747-2:1983/AMD2:1993상세보기 | Amendment 2 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 2: Rectifier diodes | 1993-10-08 | 구판 |
| 5 | IEC 60747-2:1983/AMD1:1992상세보기 | Amendment 1 - Semiconductor devices - Discrete devices - Part 2: Rectifier diodes | 1992-02-29 | 구판 |
| 6 | IEC 60747-2:1983상세보기 | Semiconductor devices - Discrete devices - Part 2: Rectifier diodes | 1983-01-01 | 구판 |
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